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与ECA/ECT模块一起使用的OmniScan MX 了解涡流彩色成像功能
OmniScan MX是一款已经实地验证、性能可靠的仪器，其机身结构坚固耐用，可以抵御严酷、恶劣的检测环境，现 在世界上正在使用的OmniScan MX仪器有成千上万台。这款仪器机身小巧、重量极轻，使用两节锂离子电池供电， 在电池满电量时，可以进行长达6小时的手动或半自动检测。
OmniScan MX仪器的8.4英寸显示屏可以实时显示高清彩色图像，在任何光线条件下，操作人员都可以查看缺陷及缺 陷的细微情况。用户可使用飞梭旋钮和功能键在仪器简单、直观的界面上轻松浏览，也可以将USB鼠标连接到仪器， 以使检测分析的操作更为便利。
一个平台、两款模块、三种技术：灵活性更高
为了满足更多应用的要求，两款模块的任何一款都可以使用涡流检测（ECT）、涡流阵列（ECA）以及新开发的粘接 检测（BT）C扫描技术。两款模块都与MXE（ECT/ECA）和MXB（BT C扫描）软件兼容，而且只需在各种技术之 间稍做简单的转换，操作人员接受少许培训即可。
ECA与ECT别无二致 覆盖范围广，扫查速度快，检出概率高
涡流阵列（ECA）技术使用多种传统桥式或反射式（发 射-接收）探头线圈，以在单次扫查检测中覆盖更大的范 围。此外，每款ECA探头都经过精心设计，可在沿探头 长度方向上的目标缺陷范围内保持极高的检出率。用户在 使用OmniScan MX ECA时，可以快速手动检测速度移 动ECA探头，进行以彩色图像显示数据、具有数据归档 能力、性能强大、效率极高的检测。
透过薄涂层进行检测
涡流检测（ECT）技术基于以下磁耦合工作原理：接近被 测工件（铁磁性或非铁磁性的导电材料）的探头传感器 （线圈）在被测工件中产生涡流，并在仪器的阻抗图中显 示信号。使用涡流技术，只要探头到金属的距离保持在合 理的间隔距离范围内，一般为0.5毫米到2.0毫米，用户 就可以透过薄涂层（如漆层）探测到材料中的缺陷。 涡流阵列和ECT技术基于相同的基本原理（和物理学理 论），因此涡流阵列技术具有与涡流检测技术相同的功 能，此外，涡流阵列技术还可以透过漆层进行检测，并具 有以下涡流阵列（ECA）技术的优势：覆盖范围大、扫 查速度快、检出概率高及彩色成像功能。
检测性能增强、操作复杂性降低 MXE 3.0软件
涡流阵列（ECA）技术除了增加了晶片之间的电子转换性能外，实际上与常规涡流检测（ECT）技术并无区别。涡 流阵列的操作与校准非常容易。新款OmniScan MXE 3.0 ECA软件经过重新设计，不仅方便了从常规ECT仪器（如 Olympus Nortec 500）到新款仪器的过渡，而且以一种更便捷的方式使用户感受到ECA技术的强大。
编码扫查，使得数据判读更方便 简单如１-２-３的优化校准
OmniScan MX ECA不仅可在常规ECT阻抗平面视图中显示ECA信号，还可提供多种其它视图和布局，用户可以从 中感受到编码ECA技术真正强大的性能。这些显示可作为校准流程的一部分，可使涡流检测过程清晰可见，甚至可基 于用户定义的合格标准做出通过或不通过的判断。 得益于其直观的界面设计，用户可对OmniScan MX ECA进行快速方便的配置和操作。配置和操作的步骤简单
OmniScan MX仪器的8.4英寸显示屏可以实时显示高清彩色图像，在任何光线条件下，操作人员都可以查看缺陷及缺 陷的细微情况。用户可使用飞梭旋钮和功能键在仪器简单、直观的界面上轻松浏览，也可以将USB鼠标连接到仪器， 以使检测分析的操作更为便利。
一个平台、两款模块、三种技术：灵活性更高
为了满足更多应用的要求，两款模块的任何一款都可以使用涡流检测（ECT）、涡流阵列（ECA）以及新开发的粘接 检测（BT）C扫描技术。两款模块都与MXE（ECT/ECA）和MXB（BT C扫描）软件兼容，而且只需在各种技术之 间稍做简单的转换，操作人员接受少许培训即可。
ECA与ECT别无二致 覆盖范围广，扫查速度快，检出概率高
涡流阵列（ECA）技术使用多种传统桥式或反射式（发 射-接收）探头线圈，以在单次扫查检测中覆盖更大的范 围。此外，每款ECA探头都经过精心设计，可在沿探头 长度方向上的目标缺陷范围内保持极高的检出率。用户在 使用OmniScan MX ECA时，可以快速手动检测速度移 动ECA探头，进行以彩色图像显示数据、具有数据归档 能力、性能强大、效率极高的检测。
透过薄涂层进行检测
涡流检测（ECT）技术基于以下磁耦合工作原理：接近被 测工件（铁磁性或非铁磁性的导电材料）的探头传感器 （线圈）在被测工件中产生涡流，并在仪器的阻抗图中显 示信号。使用涡流技术，只要探头到金属的距离保持在合 理的间隔距离范围内，一般为0.5毫米到2.0毫米，用户 就可以透过薄涂层（如漆层）探测到材料中的缺陷。 涡流阵列和ECT技术基于相同的基本原理（和物理学理 论），因此涡流阵列技术具有与涡流检测技术相同的功 能，此外，涡流阵列技术还可以透过漆层进行检测，并具 有以下涡流阵列（ECA）技术的优势：覆盖范围大、扫 查速度快、检出概率高及彩色成像功能。
检测性能增强、操作复杂性降低 MXE 3.0软件
涡流阵列（ECA）技术除了增加了晶片之间的电子转换性能外，实际上与常规涡流检测（ECT）技术并无区别。涡 流阵列的操作与校准非常容易。新款OmniScan MXE 3.0 ECA软件经过重新设计，不仅方便了从常规ECT仪器（如 Olympus Nortec 500）到新款仪器的过渡，而且以一种更便捷的方式使用户感受到ECA技术的强大。
编码扫查，使得数据判读更方便 简单如１-２-３的优化校准
OmniScan MX ECA不仅可在常规ECT阻抗平面视图中显示ECA信号，还可提供多种其它视图和布局，用户可以从 中感受到编码ECA技术真正强大的性能。这些显示可作为校准流程的一部分，可使涡流检测过程清晰可见，甚至可基 于用户定义的合格标准做出通过或不通过的判断。 得益于其直观的界面设计，用户可对OmniScan MX ECA进行快速方便的配置和操作。配置和操作的步骤简单